Preizkušanje elektronskih vezij (Modul D)

Visokošolski učitelji: Žemva Andrej
Število kreditnih točk: 6
Semester izvajanja: poletni
Koda predmeta: 64265S



Opis predmeta

Pogoji za vključitev v delo oz. za opravljanje študijskih obveznosti:

Vpis v prvi letnik podiplomskega magistrskega študijskega programa Elektrotehnika druge stopnje, poznavanje elektronskih vezij.

Vsebina:

UVOD: Pomen in vloga testiranja, testiranje digitalnih, analognih in mešanih vezij, vpliv tehnologije izdelave vezij VLSI na testiranje.

TESTNI POSTOPKI ZA VEZJA VLSI IN TESTNA OPREMA: Kako testiramo integrirana vezja? Vrste testiranja. Oprema za avtomtasko testiranje.

EKONOMIJA TESTIRANJA IN KAKOVOST VEZIJ: Gospodarski vidik testiranja, strošek testiranja, izplen, delež napak, ocena deleža napak.

MODELIRANJE NAPAK: Vrste napak, funkcijsko in strukturno testiranje, model enojnih in večkratnih napak,

modeliranje stika med povezavami.

LOGIČNA SIMULACIJA IN SIMULACIJA NAPAK: Modeliranje vezij za logično simulacijo na različnih stopnjah, algoritmi za logično simulacijo, algoritmi za simulacijo napak.

AVTOMATSKA GENERACIJA TESTNIH VEKTORJEV: Definicija generacije testnih vektorjev, identifikacija redundantnih napak, sistemi za avtomatsko generacijo testnih vektorjev, testiranje sinhronih in asinhronih sekvenčnih vezij.

TESTIRANJE POMNILNIŠKIH VEZIJ: Analiza možnih napak, metode testiranja pomnilniških vezij.

TESTIRANJE ANALOGNIH IN MEŠANIH VEZIJ: Funkcijsko DSP-testiranje, metode testiranja ADC in DAC gradnikov, modelno testiranje.

TESTIRANJE ZAKASNITEV: Problem testiranja zakasnitev, pristopi k testiranju in ugotavljanju zakasnitev v vezjih.

TEST IDDQ: Princip testiranja IDDQ in pregled metod, učinkovitost in omejitve testiranja IDDQ.

NAČRTOVANJE TESTIRANJA: Metode in pravila za načrtovanja vezij z upoštevanjem testiranja, delni-scan načrt vezja, izvedbe scan-vezij.

VGRAJENI TESTI: Stroški vgrajenega testa, generiranje testnih vektorjev za vgrajeni test, vstavljanje testnih točk, vgrajeno testiranje pomniških vezij.

STANDARD ZA OBROBNO TESTIRANJE: Namen standarda, konfiguracija vezja za obrobno testiranje po standardu IEEE 1149.1 (JTAG), vodilo ATP (Analog Test Bus), ciljne napake v analognih vezjih, obrobno testiranje analognih vezij.

TESTIRANJE SISTEMOV: Sistemsko testiranje, funkcijsko in diagnostično testiranje (slovar napak, diagnostično drevo, primer sistemskega testa mikroprocesorja), testna arhitektura za sisteme v čipu.

Cilji in kompetence:

  • osvojiti znanje o možnih vzrokih napak v elektronskih vezjih, njihovem odkrivanju in diagnozi,
  • seznanitev z modeliranjem napak pri zasnovi in izdelavi vezja,
  • poznavanje algoritmov za simulacijo napak in avtomatsko generacijo testnih vzorcev,
  • poznavanje algoritmov in metod za odkrivanje zakasnitev,
  • obvladovanje tehnik za načrtovanje vezij z upoštevanjem testiranja,
  • praktični pristopi k načrtovanju in testiranju elektronskih vezij.

Predvideni študijski rezultati:

  • temeljno znanje o testiranju vezij,
  • razumevanje pomena testiranja pri načrtovanju in izdelavi elektronskih vezij,
  • samostojnost pri izbiri testne metode in sposobnost testiranja in diagnoze napak,
  • znanje za načrtovanje elektronski vezij z upoštevanjem testiranja,
  • znanje za nadaljnji študij na področju snovanja in testiranja elektronskih vezij.

Metode poučevanja in učenja:

  • predavanja (prosojnice v kombinaciji s tablo),
  • laboratorijske vaje (praktično delo z ugotavljanjem napak in diagnozo napak v digitalnih analognih in mešanih integriranih vezjih.





Gradiva

  1. GIZOPOULOS, Dimitris (Ed.). Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies, Springer, 2006.
  2. WUNDERLICH, Hans-Joachim. Models in Hardware Testing, Springer Verlag, 2010.
  3. BUSHNELL, Michael, AGRAWAL, Wishwani. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed Signal VLSI Circuits, Springer Publishing Company, 2013.
  4. NAVABI, Zainalabedi. Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures, Springer, 2011.



Študiji na katerih se predmet izvaja

  • 1 letnik - 2. stopnja - Elektrotehnika - Informacijsko komunikacijske tehnologije
  • 1 letnik - 2. stopnja - Elektrotehnika - Avtomatika in informatika
  • 1 letnik - 2. stopnja - Elektrotehnika - Biomedicinska tehnika
  • 1 letnik - 2. stopnja - Elektrotehnika - Elektroenergetika
  • 1 letnik - 2. stopnja - Elektrotehnika - Elektronika
  • 1 letnik - 2. stopnja - Elektrotehnika - Mehatronika
  • 1 letnik - 2. stopnja - Elektrotehnika - Robotika