Modul D

Pomen razvoja in povezovanja znanj iz področja elektronike in fotonike se odraža v mnogih sodobnih elektronskih napravah, od pametnih telefonov z naprednimi zasloni do elektronskih sistemov z optičnim prenosom in hitro obdelavo podatkov.

V dveh predmetih modula D se bomo posvetili tako izbranim pomembnim segmentom iz elektronike kot tudi fotonike, ki v okviru obveznih predmetov niso zajeti.

V sklopu prvega predmeta Preizkušanje elektronskih vezij se bomo seznanili z najpogostejšimi napakami, ki se pojavljajo v današnjih elektronskih vezjih, ter s postopki za njihovo čim hitrejše odkrivanje in odpravljanje, saj je vsako kasnejše odpravljanje napak izredno zamudno, drago in negativno vpliva na ugled podjetja.  Z namenom učinkovitejšega in hitrejšega preizkušanja delovanja elektronskih vezij in sistemov bomo spoznali metode za avtomatsko preizkušanje vezij in najpomembnejše postopke za snovanje vezij z upoštevanjem preizkušanja.

Primer testiranja in diagnoze napak v vgrajenem sistemu (Vir: Laboratorij za načrtovanje integriranih vezij, UL FE, 2016)

Pri drugem predmetu z naslovom Fotonika se bomo po pregledu različnih sodobnih rešitev in odprtih izzivov na širšem področju fotonike osredotočili na segment, ki postaja v zadnjem času vse bolj pomemben - fotonska integrirana vezja. Spoznali se bomo z osnovnimi gradniki integrirane fotonike, obstoječimi rešitvami vezij in v okviru laboratorijskih vaj načrtali nekatera preprosta fotonska vezja. Cilj predmeta je, da se študenti seznanite z odprtimi izzivi fotonike, spoznate pomen in razumete delovanje gradnikov fotonike, predvsem fotonskih integriranih vezij. Spoznali bomo tudi druge aktualne gradnike sodobne fotonike.

Primer fotonskega integriranega vezja – 100 kanalni WDM, izsek – načrt demultiplekserja za 100 valovnih dolžin (Vir: M. Baier et al., ECOC 2014)

Simulacijski test fotonske nanostrukture - metamaterial, ki lahko ustvari efekt negativnega lomnega količnika (Vir: J. Bartol, diplomska naloga UL FE, 2016)